硅片测试范围与标准有哪些

硅片测试范围与标准有哪些报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务，百检网拥有众多合作实验室，出具报告与认证真实有效，涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

硅片测试范围与标准有哪些范围:

单晶硅片，太阳能硅片，光伏硅片，半导体硅片，切割硅片，镀膜硅片，清洗硅片，抛光硅片等。

具体检测范围请咨询百检客服

硅片测试范围与标准有哪些标准:

GB/T29055-2019太阳能电池用多晶硅片

GB/T26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试　非接触微波反射光电导衰减法

GB/T37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T32814-2016硅基MEMS制造技术　基于SOI硅片的MEMS工艺规范

GB/T24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T32280-2015硅片翘曲度测试自动非接触扫描法

GB/T32281-2015太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定　二次离子质谱法

GB/T30859-2014太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

GB/T30701-2014表面化学分析　硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T29507-2013硅片平整度、厚度及总厚度变化测试　自动非接触扫描法

GB/T6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法　非接触涡流法

GB/T6617-2009硅片电阻率测定　扩展电阻探针法

GB/T6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T6619-2009硅片弯曲度测试方法

具体检测标准请咨询百检客服

检测报告作用：

1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。